-混用上升下降沿會對scanchain造成什么樣的影響,能否具體解釋一下;
-如果代碼在邏輯上必須用下降沿采樣,怎樣才能滿足后端的要求(用上升沿采樣),有無變通方法;
我的代碼
我在上面提到了上升沿和下降沿混用,其實是表述不正確。不是混用,而是在代碼中有些寄存器用posedge,有些則用negedge,對同一個寄存器同時使用兩個邊沿的情況沒有。,我的代碼是這樣的情況,比如
always@(posedgei_clkornegedgei_rst_n)begin
....//reg1
end
always@(negedgei_clkornegedgei_rst_n)begin
....//reg2
end
對于這樣的情況,后端部門也建議盡量避免,也就是說所有寄存器全都采用上升沿,要怎么處理呢?
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用下降沿采樣的話
dft_drc會認為該寄存器有violation
因此不把他放到chain里邊
所以覆蓋率會降低